La première édition de l’école Crystelec soutenue par la
Sfμ , l’
AFC et le
LABEX EMC3 s’est tenue du 16 au 20 novembre 2015 à l’Université Lille 1, réunissant dix-sept participants. La formation portait sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique. Les développements récents associés à l’utilisation de nouvelles techniques d’acquisition et/ou d’analyse des données telle que la précession, le faisceau convergent, la tomographie et la cartographie d'orientation y ont été présentés. Les sessions pratiques se sont déroulées sur le Tecnai 20 du
Centre Commun de Microscopie récemment équipé du système de cartographie d’orientation ASTAR (Nanomegas).
Nous remercions chaleureusement nos soutiens et institutions pour avoir contribué au bon déroulement de cette école.
Le site de l’école :
http://crystelec.univ-lille1.fr/.