Diffraction des rayons X appliquée à la cristallogenèse

L'Action Nationale de Diffraction des rayons X appliquéeà la cristallogenèse est organisée sous l’égide du Réseau CMDO+ avec le soutien de la Mission pour les Initiatives Transverses et Interdisciplinaires du CNRS.

 

OBJECTIFS
Développer l’expertise dans l’utilisation des outils et méthodes de cristallographie par diffraction des rayons X, incluant la livraison d’outils logiciels d’analyse et de résolution de données DRX, appliqués aux problématiques de
cristallogenèse et de croissance cristalline.

PROGRAMME
Alternance de présentations théoriques et de travaux pratiques sur les thématiques suivantes :

• DRX sur poudre, méthodes d’affinements Le Bail et Rietveld, avec un accent mis sur l'analyse quantitative, le désordre cationique (revue des méthodes d'analyse du désordre moyenné à plusieurs échelles), et des exemples d’utilisation du rayonnement synchrotron ;
• Caractérisation des défauts étendus par topographie X, imagerie de dislocations, de microbulles, avec une ouverture sur la topographie aux rayons γ et l'AFM ;
• Suivi in situ du front de cristallisation et méthodes d’imagerie X : topographie et radiographie X ;
• Introduction à la caractérisation des macles sur polycristaux et monocristaux
• Orientation Laue avec mise en oeuvre du logiciel Orient Express.

LIEU – INTERVENANTS /ORGANISATEURS
CNRS Délégation Alpes à Grenoble

• Pierre Bordet, Bertrand Ménaert, AlexandraPeña-Revellez et Julien Zaccaro – Institut Néel
• Nathalie Mangelinck – IM2NP
• Olivier Pérez – CRISMAT
• Matias Velazquez - SIMAP

COÛT PEDAGOGIQUE
Pris en charge sur le budget attribué à l’ANF pour l’ensemble des participants CNRS.

DATE LIMITE D’INSCRIPTION: 12 juillet 2019

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