27-30 mars 2018 - Orsay
Formation: Corrélation entre la texture cristalline et la microstructure des matériaux - EBSD et diffraction des rayons X
Objectives: Acquérir des connaissances théoriques et pratiques sur l'analyse des textures par diffraction des rayons X et des microstructures des matériaux métalliques grâce, en particulier, à l'EBSD (Electron BackScatter Diffraction) et aux cartographies d'orientations, méthodes consistant à imager les orientations d'une microstructure, chaque grain étant automatiquement défini par sa géométrie et son orientation cristallographique.
Cours (40 % du temps)
- Description de la texture cristallographique :
. rappels de cristallographie : indices de Miller, projection stéréographique...
. description et représentation des orientations cristallographiques : figures de pôles, fonction de distribution des orientations cristallines (FDOC)
. caractérisation des textures par diffraction des rayons X
- Analyse des textures globales :
. calcul de la FDOC : méthode harmonique, méthodes discrètes...
- Analyse des orientations individuelles :
. caractérisation des orientations individuelles par diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)
. calcul de la FDOC : méthode harmonique...
- Analyse des relations texture-microstructure :
. caractérisation des relations texture-microstructure : cartographies d'orientations (EBSD), nature des joints de grains...
. potentialités et limites de l'EBSD
Travaux dirigés et pratiques (60 % du temps)
- Mesure de textures par diffraction des rayons X
- Mesure de cartographies d'orientations par EBSD
- Exercices de cristallographie
- Interprétation des figures de pôles et de la FDOC
- Utilisation des logiciels Labotex et OIM
- Etudes de cas
Intervenants
T. Baudin, S. Lartigue (chercheurs), F. Brisset (ingénieur), A.-L. Helbert, D. Solas (maîtres de conférences) et C. Esling (professeur)
Inscriptions et plus d'information ici.