
- Acquérir les principes généraux de la diffraction des rayons X appliquée à l'étude des échantillons poly-cristallins
- Être capable de réaliser une identification de phases, une analyse quantitative, et d'obtenir les informations géométriques, structurales et microstructurales liées respectivement à la position, l'intensité et la distribution d'intensité des pics de diffraction