École de Cristallographie Électronique

16-20 novembre 2015, Villeneuve d'Ascq

L'école porte sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique dans un MET. Elle concerne les développements récents associés à l’utilisation de nouvelles techniques d’acquisition et d’analyse des données telle que la précession, la tomographie et la cartographie de phase et d’orientation. Les méthodes d'analyse de symétrie en faisceau convergent seront également présentées.

Pour plus d'informations, voir le site de l'École et le flyer.

L'École est soutenue par l'Association Française de Cristallographie.