ЯÉCIPROCS, le Réseau des Chercheurs et ITA Professionnels de la Cristallographie Structurale a organisé les 18 et 19 novembre 2019 la seconde partie de sa formation nommée « Diffraction sous conditions extrêmes ou atypiques/Traitement et outils avancés », qui fait suite à l’ANF ЯÉCIPROCS 2018. Cette formation, qui a réuni 26 personnes, s’est déroulée à l’Institut Jean Lamour de Nancy sur le campus ARTEM, en amont du colloque Rayons X et Matière 2019 dont elle a été le satellite.

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La neige tombait sur la capitale de l’ancien duché de Lorraine lors de l’ouverture de la formation ЯÉCIPROCS. La première présentation fut repoussée de quelques minutes, laissant aux participants arrivés en retard à cause de problèmes de transport en commun, le temps d’être accueillis par un café bien réconfortant. Emmanuel Wenger (CRM2, Nancy) a ouvert la matinée en présentant le dispositif de mesures de diffraction X sous champ électrique commuté, dédié aux matériaux piézoélectriques, développé au sein de son laboratoire. Son collègue Sébastien Pillet (CRM2, Nancy) a ensuite parlé de photocristallographie, montré les besoins instrumentaux nécessaires à la détection d’une modification structurale photo-induite et exposé les solutions adoptées par son équipe pour y pallier. Un exemple d’analyse des données obtenues par cette méthode nous a également été présenté.

L’après-midi a été consacrée à la visite des instruments de deux laboratoires nancéens. À l’Institut Jean Lamour (UMR 7198), la visite a débutée par le tout nouveau centre de compétences DAUM (Dépôt et Analyse sous Ultravide de nano Matériaux) et son tube de 70m unique au monde, qui nous a été présenté par Danielle Pierre (IJL), médaillée du cristal du CNRS 2018. Cette découverte de l’IJL s’est poursuivie avec la visite de l’important et diversifié parc d’instrumentation XGamma. Celui-ci regroupe 15 appareils de diffraction et diffusion X ainsi que 3 sources de spectroscopie Mössbauer. Une mention spéciale doit être décernée à un ingénieux système de refroidissement externe « fait maison », réalisé à partir d’un couscoussier et d’un coffre à jouets, que l’on aurait très bien pu attribuer à un certain MacGyver, héros des années 80-90. La journée s’est prolongée avec la découverte de la plateforme de mesures de diffraction X (PMD²X) du Laboratoire de Cristallographie, Résonance Magnétique et Modélisations (UMR 7036) situé à la Faculté des Sciences et Technologies de Vandœuvre-lès-Nancy. Cette plateforme instrumentale rassemble plusieurs appareils de diffraction sur monocristaux et poudre permettant de réaliser des analyses dans des conditions atypiques variées telles qu’à haute, basse ou très basse température, sous irradiation laser ou encore sous champ électrique commuté. Maxime Deutsch (CRM2, Nancy) nous a également montré les possibilités de mesures DRX sous pression grâce à l’utilisation de cellules à enclumes de diamant.

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Mardi matin, le soleil et la douceur ont été au rendez-vous. Marion Harmand (IMPMC, Paris) nous a fait découvrir le grand instrument XFEL (X-ray Free-Electron Laser / Laser à Électrons Libres et à Rayons X), son principe de fonctionnement ainsi que ses applications en cristallographie. Puis un système expérimental permettant des mesures de diffraction sur poudre sous flux et pression de gaz, en capillaires, de la température ambiante à 1000°C, nous a été présenté par Gaëtan Louarn (ISCR, Rennes). Il a notamment expliqué le fonctionnement d’une platine mobile permettantle mélange de gaz secs ou humides. L’évènement s’est clôturé peu avant midi avec la présentation de Pascal Boulet (IJL, Nancy) sur la comparaison des mesures de diffraction effectuées avec différents modules haute température Anton Paar (dispositifs HTK et DHS), ainsi qu’avec la chambre de réaction XRK 900, qui permet de réaliser des analyses de diffraction sous atmosphère réactive de l’ambiante à 900°C.

Cet événement, complémentaire de l’ANF ЯÉCIPROCS 2018, a été l’opportunité de découvrir les différentes conditions extrêmes ou atypiques que l’on peut appliquer lors de mesures de diffraction des rayons X et accessible dans les laboratoires français partenaires de ЯÉCIPROCS. Cette formation a également été un moment d’échanges importants et de nouvelles rencontres pour les membres du réseau.

ЯÉCIPROCS vous donne désormais rendez-vous le lundi 29 juin 2020 à Grenoble, pour l’atelier satellite du futur colloque de l’Association Française de Cristallographie, co-organisé avec le Groupe Thématique Biologie de l’AFC, qui portera sur la suite logicielle CSD-Enterprise du CCDC. Venez nombreux !

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URL de la formation : http://www.cdifx.univ-rennes1.fr/RECIPROCS/RECIPROCS_frm_Nancy2019.htm

Jérémy Forté (IPCM, Paris) et Elen Duverger-Nédellec (Faculté de Mathématiques et Physique, Charles University, Prague)