5-9 février 2018, Caen

crystelec2018La deuxième édition de l’école CrystElec aura lieu à Caen, du 5 au 9 février 2018. L'école porte sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique dans un MET. Elle concerne les développements récents associés à l’utilisation de nouvelles techniques d’acquisition et d’analyse des données telle que la précession, la tomographie et la cartographie de phase et d’orientation. Les méthodes d'analyse de symétrie en faisceau convergent seront également présentées.


Public : Doctorants, chercheurs, IE et IR. 12-20 pers. max. Des connaissances de base en microscopie électronique et/ou en analyse structurale par diffraction des rayons X sont requises.

Pour plus d'informations et inscriptions, voir le site de l'École et le flyer.